Nazwa produktu: Materiał elektromagnetycznySkrzynka eksperymentalna zimnego i cieplnego uderzenia

Proszę wybrać model produktu odpowiedni dla Twojej firmy zgodnie z poniższym formularzem, zgodnie z parametrami, jeśli nie ma odpowiedniego modelu, możemy również zaoferować dostosowany do Twojej firmy program zgodnie z wymaganiami Twojej firmy.

Materiały elektromagnetyczneCzęste usterki w pudełku z zimnym i ciepłym uderzeniem:

▲、Niższa temperatura nie może osiągnąć wskaźnika eksperymentu obserwować zmiany temperatury, czy temperatura spada bardzo wolno, czy temperatura do pewnej wartości po temperaturze ma tendencję do wzrostu, pierwszy musi sprawdzić, czy przed przeprowadzeniem eksperymentu w niskiej temperaturze suszy się pokój spraw, aby połączenie pomieszczenia spraw było nudne, a następnie umieści próbkę eksperymentalną w pomieszczeniu spraw, aby przeprowadzić eksperyment, czy próbka eksperymentalna w pomieszczeniu spraw jest zbyt duża, aby wiatr w pomieszczeniu spraw nie mógł w pełni krążyć. Jeśli nie jest to samo środowisko, możesz poprosić profesjonalnego producenta o naprawę.Wysokotemperaturowe teste uderzenioweSkłada się z obudowy, układu cyrkulacji wiatru, systemu chłodzenia i systemu ogrzewania.

▲、Poza tymPowodem jest również prawdopodobnie słaba temperatura otoczenia, producent zainicjował idealną temperaturę5-28Stopień (24Średnia temperatura na godzinę24około) wilgotności.95%Po lewej i prawej stronie każdy precyzyjny instrument musi mieć dobry układ fabryki, aby zapewnić idealną efektywność instrumentu. Gwarancja żywotności produktu. Ten mały wskazówek konserwacyjny powinien wiedzieć każdy pracownik laboratorium lub nerwny operator.

▲、Skrzynka eksperymentalna z materiałami elektromagnetycznymiTajwan jest znany jako materiał elektromagnetyczny zimno-cieplny uderzacz, używany do komponentów elektrycznych i elektronicznych, komponentów automatycznych, komponentów komunikacyjnych, części samochodowych, metali, materiałów chemicznych, tworzyw sztucznych i innych przemysłów, przemysłu obronnego, kosmicznego, przemysłu zbrojnego,BGA、PCBKlucz podstawowy, elektryczny PodchipICZmiany fizyczne w materiałach ceramicznych i polimerowych półprzewodników,Testowanie powtarzalnej odporności materiałów na wysokie i niskie temperatury oraz produktów na ciepło Zmiany chemiczne lub uszkodzenia fizyczne wynikające z nadmuchania lub kompresji, które potwierdzają jakość produktu,Od precyzyjnegoICDo ciężkich komponentów maszyn, żaden z nich nie jest potrzebny Idealne narzędzie testowe.

Materiały elektromagnetyczneSkrzynka eksperymentalna zimnego i cieplnego uderzeniaSpełnienie kryteriów:

▲、GB/T2423.1-2001metody badań niskotemperaturowych;

▲、GB/T2423.2-2001metody testowania w wysokiej temperaturze;

▲、GB/T2423.22-1989Testy zmian temperaturyN；

▲、Krajowy standard wojskowyGJB150.3-86；

▲、Krajowy standard wojskowyGJB150.4-86；

▲、Krajowy standard wojskowyGJB150.5-86；

▲、GJB150.5-86badania udaru temperaturowego;

▲、GJB360.7-87badania udaru temperaturowego;

▲、GJB367.2-87 405Test uderzenia temperaturowego.

▲、SJ/T10187-91Y73Seria zestawów testowych do zmian temperatury - jeden pudełko

▲、SJ/T10186-91Y73Seria skrzynek testowych do zmiany temperatury - dwustronny