Hitachi: Nowe mikroskopy skaningowe z serii SU8200 (SU8220, SU8230, SU8240)

Informacje o urządzeniu:

Skanowanie zimnego pola z serii SU8200 to nowatorskie elektroskopy zimnego pola nowej generacji opracowane przez Hitachi High Tech po wielu latach intensywnych badań i dużych inwestycjach.Nie tylko w pełni przestrzega wszystkich zalet poprzedniego elektroskopu skanującego z emisją zimnego pola, ale także znacznie poprawia prąd sondy i znacznie zwiększa stabilność prądu. Zalety te umożliwiają obserwację i analizę o wysokiej rozdzielczości przy niskim napięciu przyspieszenia przez długi czas.Ta seria elektroskopów skanujących w pełni przestrzegając wszystkich zalet poprzednich elektroskopów skanujących emitowanych w zimnym polu, jednocześnie znacznie poprawił prąd sondy, znacznie poprawił stabilność prądu, a jednocześnie uniknął czasu oczekiwania na rysunek po lampie flash, można powiedzieć, że kompensował wszystkie słabości poprzednich elektroskopów skanujących w zimnym polu, aby stać się prawdziwym ultra-wysoką rozdzielczością analitycznym elektroskopem skanującym w zimnym polu, przedstawił prawdziwą wersję * powrotu!

Główne cechy serii mikroskopów skanujących elektronowych Hitachi SU8200:

Hitachi High Tech nowo opracowana broń elektroniczna z zimnym polem

Wysoki okres stabilności jasności po bombardowaniu pistoletu elektronicznego, większy i stabilniejszy strumień, wysoka rozdzielczość obserwacji i analizy

Znacznie zwiększona rozdzielczość (1,1 nm/1kV, 0,8 nm/15kV)

3. magazyn próbek wysokiej próżni zmniejszający zanieczyszczenie

4. Wizualizacja kontrastu różnych materiałów za pomocą górnego filtru (opcja)

Parametry techniczne serii mikroskopów skanujących elektronowych Hitachi SU8200:

Obszary zastosowania:

1) nanomateriały;

2) urządzenia półprzewodnikowe;

3. materiały polimerowe;

4) Medycyna Biologiczna;

5) nowe źródła energii;

Próbka: nanokula dwutlenku krzemu międzyporowego; Napięcie lądowe: 500 V

Próbka: Ziemia Kaoling; Napięcie lądowe: 50V

Próbka: Au/Cu2O jądro-powłoka nanokostka; Warunki wykresów EDX: 5 kV, 0,7 nA, 15 min, 150 000×

(Wyłącz filtr górny) (Włącz filtr górny)

Próbka: materiał pozytywny baterii litowo-jonowej (to samo pole widzenia); Warunki obserwacji: 1KV